WEKO3
アイテム
Characterization of the chemical bonding at the interfaces of SiO₂-related materials using microscopic infrared spectroscopy and attenuated total reflection
http://hdl.handle.net/10236/00026629
http://hdl.handle.net/10236/000266294574fe0a-6af2-4bf7-a690-ea46db9461d6
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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論文要旨 (310.0 kB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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| 公開日 | 2018-03-09 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Characterization of the chemical bonding at the interfaces of SiO₂-related materials using microscopic infrared spectroscopy and attenuated total reflection | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||
| 資源タイプ | thesis | |||||
| 著者 |
関, 洋文
× 関, 洋文× Seki, Hifofumi |
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| 内容記述 | ||||||
| 値 | 学位の専攻分野の名称：博士（工学） 学位記番号：乙理第66号（文部科学省への報告番号乙第378号） 学位授与年月日：2017年3月3日 |
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