WEKO3
アイテム
超高輝度X線光源を用いたSi薄膜単結晶の非対称Bragg反射パターン測定
http://hdl.handle.net/10236/9640
http://hdl.handle.net/10236/964084376771-91e2-4a08-9208-c5b44bc8989b
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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論文要旨 (141.2 kB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||||
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| 公開日 | 2012-11-02 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | 超高輝度X線光源を用いたSi薄膜単結晶の非対称Bragg反射パターン測定 | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec | |||||||
| 資源タイプ | thesis | |||||||
| 著者 |
大路, 祐介
× 大路, 祐介
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| 内容記述 | ||||||||
| 2011年度修士論文要旨.関西学院大学大学院理工学研究科物理学専攻高橋功研究室 | ||||||||
| 著者版フラグ | ||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||
